Low-e膜层四点电阻测试仪
RC3175/RC2175
Low-e膜层四点电阻测试仪
RC2175 | RC3175 | 单位 | |
量程 | 0-1999 | 0-199.9 | Ohms/square |
读数 | 1 | 0.1 | |
精度 | 3% | 0.9% |
国家玻璃质量监督检测中心
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